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簡(jiǎn)要描述：武漢科思特電化學(xué)工作站±2A電流范圍（可擴展至5A，20A）； ±10V電壓范圍（可擴展至50V）； ±21V槽壓范圍（可擴展至200V）； 全浮地式測量； 自由組合測試。
產(chǎn)品型號： CS150H
所屬分類(lèi)：武漢科思特電化學(xué)工作站
更新時(shí)間：2023-08-02
廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
| 品牌 | 其他品牌 | 電位精度 | 0.1%×滿(mǎn)量程讀數±1mV |
|---|---|---|---|
| 恒電位范圍 | ±2.0v | 電流范圍 | 2nA～2AmA |
| 電流精度 | 0.1%×滿(mǎn)量程讀數 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產(chǎn) |
| 價(jià)格區間 | 面議 | 儀器種類(lèi) | 電化學(xué)工作站 |
| 應用領(lǐng)域 | 醫療衛生,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子 | 恒電位控制范圍 | ±10V |
| 電位控制精度： | 0.1%×滿(mǎn)量程讀數±1mV | 電位靈敏度： | 10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) |
| 電位上升時(shí)間： | ﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A) | 參比電極輸入阻抗： | 1012Ω||20pF |
| 槽壓輸出： | ±21V （可擴展至±200V) | CV和LSV掃描速度： | 0.001mV～10000V/s |
| CA和CC脈沖寬度： | 0.0001～65000s | SWV頻率： | 0.001～100KHz |
| AD數據采集： | 16bit@1MHz，20bit @1KHz | DA分辨率： | 16bit |
| 建立時(shí)間： | 1μS | 通訊接口： | USB2.0 |
| 外形尺寸（cm）： | 36.4(W)X32.0 (D)X16.0 (H) | 恒電流控制范圍： | ±2.0A |
| 電流控制精度： | 0.1%×滿(mǎn)量程讀數 | 電流靈敏度： | 1pA |
| 電流量程： | 2nA～2A, 共10檔 | 最大輸出電流： | 2.0A |
| 電流掃描增量： | 1mA @1A/mS | 電位掃描電位增量： | 0.076mV @1V/mS |
| DPV和NPV脈沖寬度： | 0.0001～1000s | CV的最小電位增量： | 0.075mV |
| 電流與電位量程： | 自動(dòng)設置 | 低通濾波器 ： | 8段可編程 |
| 儀器重量： | 6.5Kg |
CS電化學(xué)工作站采用全浮地式設計，具有出色的穩定性和度，*硬件和功能完善的軟件，為涉及能源、材料、生命科學(xué)、環(huán)保等領(lǐng)域的科技工作者提供了的科研平臺。
應用
（1）電合成、電沉積（電鍍）、陽(yáng)氧化、電解等反應機理研究；
（2）電化學(xué)分析研究；
（3）能源材料（鋰離子電池、太陽(yáng)能電池、燃料動(dòng)力電池和超級電容器等）、*功能材料以及傳感器的性能研究；
（4）金屬材料的腐蝕行為研究與耐蝕性評價(jià)；
（5）緩蝕劑、水質(zhì)穩定劑、涂層以及陰保護效率的快速評價(jià)。
硬件特點(diǎn)
l 雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉換器
l 高帶寬高輸入阻抗的放大器
l 內置FPGA DDS信號合成器
l 高功率恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計
l 電壓控制范圍：±10V，槽壓為±21V（可擴展至±200V）
l 電流控制范圍：±2.0A（可擴展至20A）
l 電位分辨率：10μV，電流分辨率：1pA（可延伸至100fA）
軟件特點(diǎn)
① 數據分析
伏安曲線(xiàn)的平滑、積分和微分運算，計算各氧化還原峰的峰電流、峰電位和峰面積等；
化曲線(xiàn)的三參數或四參數動(dòng)力學(xué)解析，計算Tafel斜率ba，bc，腐蝕電流密度icorr，限擴散電流、化電阻Rp和腐蝕速率等，還可由電化學(xué)噪聲譜計算功率譜密度、噪聲電阻Rn和譜噪聲電阻Rsn(f)。
② 實(shí)時(shí)存儲
CS Studio實(shí)時(shí)存儲測量數據，即使因斷電導致測試中斷，中斷之前的數據也會(huì )自動(dòng)保存。
③ 定時(shí)測量
CS Studio測試軟件具有定時(shí)測量功能， 對于某些需要研究體系隨時(shí)間變化特征時(shí)，可提前設好測試參數與間隔時(shí)間，讓儀器在無(wú)人值守下自動(dòng)定時(shí)測量，為實(shí)驗提供方便。
技術(shù)優(yōu)勢
① 化曲線(xiàn)
具有線(xiàn)性化和Tafel化曲線(xiàn)測量功能，用戶(hù)可設定循環(huán)化曲線(xiàn)的陽(yáng)回掃電流（鈍化膜擊穿電流），來(lái)確定材料的點(diǎn)蝕電位和保護電位，評價(jià)晶間腐蝕敏感性。軟件采用非線(xiàn)性擬合算法解析化曲線(xiàn)，可用于材料耐蝕性和緩蝕劑性能的快速評價(jià)。
②伏安分析
能完成線(xiàn)性?huà)呙璺玻?/span>LSV）、循環(huán)伏安（CV）、階梯伏安（SCV）、方波伏安（SWV）、差分脈沖伏安（DPV）、交流伏安（ACV）、溶出伏安等多種電分析方法，集成峰面積、峰電流計算和標準曲線(xiàn)分析功能。
③ 電化學(xué)噪聲
采用高阻跟隨器和零阻電流計測量腐蝕體系自發(fā)的電位與 電流波動(dòng)，可用于點(diǎn)蝕、電偶腐蝕、縫隙腐蝕和應力腐蝕開(kāi)裂 等局部腐蝕研究。通過(guò)噪聲譜分析，可評估亞穩態(tài)蝕點(diǎn)或裂紋的誘導、生長(cháng)和死亡過(guò)程?；谠肼曤娮韬忘c(diǎn)蝕指數計算，也可用于局部腐蝕監測。
④功率擴展
CS系列電化學(xué)工作站的電流控制范圍為±2.0A，槽壓輸出≥21V，可滿(mǎn)足燃料動(dòng)力電池、大功率電池充放電、電化學(xué)電解或電沉積等領(lǐng)域的需求。采用專(zhuān)用的功率擴展器，大輸出電流可達20A，槽壓±200V。
⑤全浮地測量
CS系列電化學(xué)工作站采用全浮地式工作電，可用于工作電本身接地體系的電化學(xué)研究，如用于高壓釜電化學(xué)測試（釜體接地），大地中金屬構件（橋梁、混凝土鋼筋）的在線(xiàn)腐蝕研究等。
⑥光電測試模塊
CS電化學(xué)工作站可以與光強計、分光光度計聯(lián)用，用于光電化學(xué)測量，在進(jìn)行電化學(xué)測量的同時(shí)記錄光電流或光譜響應信號。
⑦自定義方法
支持用戶(hù)自定義組合測量，用戶(hù)可以設定定時(shí)循環(huán)進(jìn)行某一測試方法或多種方法的組合測試，用于無(wú)人值守下的定時(shí)自動(dòng)測量；
提供API通用接口函數和開(kāi)發(fā)實(shí)例，方便用戶(hù)二次開(kāi)發(fā)和自定義測試方法；
提供用戶(hù)自定義腳本編寫(xiě)范例，用于實(shí)現您*的電化學(xué)實(shí)驗技術(shù)。
硬件參數指標
恒電位控制范圍：±10V | 恒電流控制范圍：±2.0A |
電位控制精度：0.1%×滿(mǎn)量程讀數±1mV | 電流控制精度：0.1%×滿(mǎn)量程讀數 |
電位靈敏度：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) | 電流靈敏度：1pA |
電位上升時(shí)間：﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A) | 電流量程：2nA～2A, 共10檔 |
參比電輸入阻抗：1012Ω||20pF | 大輸出電流：2.0A |
槽壓輸出：±21V （可擴展至±200V) | 電流掃描增量：1mA @1A/mS |
CV和LSV掃描速度：0.001mV～10000V/s | 電位掃描電位增量：0.076mV @1V/mS |
CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s | DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s |
SWV頻率：0.001～100KHz | CV的小電位增量：0.075mV |
AD數據采集：16bit@1MHz，20bit @1KHz | 電流與電位量程：自動(dòng)設置 |
DA分辨率：16bit，建立時(shí)間：1μS | 低通濾波器 ：8段可編程 |
通訊接口：USB2.0 | 儀器重量：6.5Kg |
外形尺寸（cm）：36.4(W)X32.0 (D)X16.0 (H) |
配置
1）儀器主機1臺
2）CS Studio測試與分析軟件1套
3）模擬電解池1個(gè)
4）電源線(xiàn)/USB數據線(xiàn)各1條
5）電電纜線(xiàn)1條
6）電腦（選配*）
CS單通道系列不同型號功能方法比較
功能方法 | CS150H | CS300H | CS310H | CS350H | |
穩態(tài)化 | 開(kāi)路電位（OCP） | ● | ● | ● | ● |
恒電位化（i-t曲線(xiàn)） | ● | ● | ● | ● | |
恒電流化 | ● | ● | ● | ● | |
動(dòng)電位掃描（Tafel曲線(xiàn)） | ● | ● | ● | ● | |
動(dòng)電流掃描（DGP） | ● | ● | ● | ● | |
電位掃描-階躍 | ● | ||||
暫態(tài)化 | 任意恒電位階梯波 | ● | ● | ● | ● |
任意恒電流階梯波 | ● | ● | ● | ● | |
恒電位階躍（VSTEP） | ● | ● | ● | ● | |
恒電流階躍（ISTEP） | ● | ● | ● | ● | |
計時(shí)分析 | 計時(shí)電位法（CP） | ● | ● | ● | |
計時(shí)電流法（CA） | ● | ● | ● | ||
計時(shí)電量法（CC） | ● | ● | ● | ||
伏安分析 | 線(xiàn)性?huà)呙璺玻?/span>LSV） | ● | ● | ● | ● |
線(xiàn)性循環(huán)伏安（CV） | ● | ● | ● | ● | |
階梯循環(huán)伏安（SCV） | ● | ● | |||
方波伏安（SWV） | ● | ● | |||
差分脈沖伏安（DPV） | ● | ● | |||
常規脈沖伏安（NPV） | ● | ● | |||
差分常規脈沖伏安（DNPV） | ● | ● | |||
交流伏安（ACV） | ● | ● | |||
二次諧波交流伏安（SHACV） | ● | ● | |||
傅里葉變換交流伏安（FTACV） | ● | ● | |||
電流檢測 | 差分脈沖電流檢測（DPA） | ● | |||
雙差分脈沖電流檢測（DDPA） | ● | ||||
三脈沖電流檢測（TPA） | ● | ||||
積分脈沖電流檢測（IPAD） | ● | ||||
溶出伏安 | 電位溶出分析（PSA） | ● | ● | ||
線(xiàn)性?huà)呙枞艹龇玻?/span>LSSV） | ● | ● | |||
階梯溶出伏安（SCSV） | ● | ● | |||
方波溶出伏安（SWSV） | ● | ● | |||
差分脈沖溶出伏安（DPSV） | ● | ● | |||
常規脈沖溶出伏安（NPSV） | ● | ● | |||
差分常規脈沖溶出伏安（DNPSV） | ● | ● | |||
交流阻抗 | 阻抗-頻率掃描 | ● | ● | ||
阻抗-時(shí)間掃描 | ● | ● | |||
阻抗-電位掃描（Mott-Schottky 曲線(xiàn)） | ● | ● | |||
充放電測試 | 電池充放電 | ● | ● | ● | ● |
恒電流充放電（GCD） | ● | ● | ● | ● | |
恒電位充放電 | ● | ● | ● | ● | |
恒電位間歇滴定技術(shù)（PITT） | ● | ● | ● | ● | |
恒電流間歇滴定技術(shù)（GITT） | ● | ● | ● | ● | |
雙恒測量 | 氫擴散測試（HDT） | ||||
盤(pán)環(huán)電測試 | |||||
擴展測量 | 電化學(xué)噪聲（EN） | ● | ● | ● | ● |
數字記錄儀 | ● | ● | ● | ● | |
電化學(xué)溶解/沉積 | ● | ● | ● | ● | |
控制電位電解庫倫法（BE） | ● | ● | ● | ● | |
動(dòng)電位再活化法（EPR） | ● | ● | ● | ● | |
溶液電阻測量 | ● | ● | ● | ● | |
循環(huán)化曲線(xiàn)（CPP） | ● | ● | ● | ● | |
注：
*氫擴散及旋轉盤(pán)環(huán)電測試需配置CS1002恒電位/恒電流儀或采用CS2350雙恒電位儀。
*光電測量功能用戶(hù)選配。
*產(chǎn)品3年質(zhì)保。
地址：北京市房山區長(cháng)陽(yáng)萬(wàn)興路86號-A529
郵箱：oict_bj@163.com
傳真：010-59470086
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