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光焱科技光譜響應測試系統IPCE量子效率測試

光焱科技光譜響應測試系統IPCE量子效率測試

簡(jiǎn)要描述：光焱科技光譜響應測試系統IPCE量子效率測試QE-R系統可以測試晶硅電池（Si），非晶硅電池（a-Si），多結電池（Tandem），染料敏化電池（DSSC），有機電池（OPV），銅銦鎵硒（CIGS），聚光電池（HCPV）等各種太陽(yáng)能電池。

產(chǎn)品型號： QE-R

所屬分類(lèi)：光焱量子效率分析儀

更新時(shí)間：2023-08-03

廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商

詳情介紹
品牌其他品牌應用領(lǐng)域醫療衛生,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子
測量模式交流Dark?box600mm?x?600mm?x?600mm
　

QE-R光譜響應測試系統 產(chǎn)品特色:

  • 特制高效率集光系統設計，高達70 %以上的集光，有效提高訊號強度，使量測更快更穩定。

  • 配備兩部鎖相放大器，同時(shí)達到即時(shí)監控光強與訊號量測，提供較準確的量測結果。

  • 整合電腦自動(dòng)控制訊號切換器，可降低維修及耗材成本。

  • 采用原裝多光柵單光儀，低雜散光 < 10-5，穩定度高及掃描快速。

  • 光源穩定，可長(cháng)時(shí)間持續測試，縮短實(shí)驗校正時(shí)間。

  • 數據重復性高達99.5 %。

  • 適用于量測各種材料之太陽(yáng)能電池。


※以QE-R量測三節電池的EQE


※以QE-R比較不同結構之HIT電池

QE-R光譜響應測試系統 產(chǎn)品特色:

  • 特制高效率集光系統設計，高達70 %以上的集光，有效提高訊號強度，使量測更快更穩定。

  • 配備兩部鎖相放大器，同時(shí)達到即時(shí)監控光強與訊號量測，提供較準確的量測結果。

  • 整合電腦自動(dòng)控制訊號切換器，可降低維修及耗材成本。

  • 采用原裝多光柵單光儀，低雜散光 < 10-5，穩定度高及掃描快速。

  • 光源穩定，可長(cháng)時(shí)間持續測試，縮短實(shí)驗校正時(shí)間。

  • 數據重復性高達99.5 %。

  • 適用于量測各種材料之太陽(yáng)能電池。

 


※以QE-R量測三節電池的EQE


※以QE-R比較不同結構之HIT電池

 

※以QE-R量測硅基三節電池結構的EQE※QE-R量測太陽(yáng)能電池的差異性小

 

QE-R光譜響應測試系統 系統說(shuō)明:

  • QE-R標準系統即具備IEC 60904-1、60904-7、60904-8要求之所有功能:

    • 依據IEC 60904-8規范設計，可校正、量測光譜響應 / 量子效率。

    • 采用德國Fraunhofer ISE同等級之白光偏光源，光源強度可達0~3個(gè)太陽(yáng) 光常數。

    • 具備自動(dòng)電壓偏壓功能，將電池穩定的維持在短路條件，在測試量測光譜響應 / 量子效率時(shí)無(wú)須再外接一個(gè)電源供應器，省去接線(xiàn)錯誤的麻煩。

    • 量測太陽(yáng)能電池材料能隙，提供客戶(hù)重要材料參數。

    • 光譜不合致度因子(Spectral Mismatch Factor)計算，提供用戶(hù)較重要的修正參數。

    • 全光譜短路電流密度計算(auto interlace演算)，可提供較準確的計算結果。

    • 短路電流密度光譜，提供客戶(hù)作為材料分析、制程改進(jìn)之關(guān)鍵資訊。

    • 內部量子效率計算功能，客戶(hù)可自行輸入反射率，計算內部量子效率。

  • 高效率集光系統，集光效果 > 70 %，較傳統透鏡集光系統高于一個(gè)數量級以上的光強度，提供系統*訊噪比與量測的準確性。

  • Czerny-Turner多光柵單光儀，低雜散光 < 10-5，高穩定度、掃描快速，光譜范圍可達200 nm ~2000 nm。

  • 雙光束光路設計:

    • 同NIM、NIST、PTB國際一級校驗單位相同光路設計。

    • 量測樣品光電流訊號同時(shí)監控光強變化，確保量測的高度準確性。

  • 訊號多工器，整合電腦自動(dòng)控制訊號切換器，避免拉拔訊號線(xiàn)接頭所造成之損壞，降低維修及耗材成本。

  • 優(yōu)異的信噪比，可達100 dB是整體系統優(yōu)化的結果，客戶(hù)無(wú)須再閱讀一般鎖相放大器厚重的操作手冊，無(wú)須自行優(yōu)化量測時(shí)的設定參數，避免人為操作的困擾與錯誤。

  • 直流量測模式，客戶(hù)無(wú)須再拆裝任何硬體設備，直接將多功電表，模組化整合到系統內部，大幅簡(jiǎn)化硬體空間與拆裝的不便性。

  • 高均勻度參考偵測器(Reference detector)。

QE-R光譜響應測試系統 系?規格

項目
規格
儀器大小

  1. 600(W) x 600(D) x 610(H)mm集成系統,不含作業(yè)計算機

重量

  1. 主體:80kg

量測模式

  1. 交流量測模式

量測波長(cháng)

  1. 300nm~1100nm ,可擴展到2000nm

光班大小

  1. 2 x 2 m2或1 x 4 m2(可客制)

整合型光源系統

  1. 150WXQ光源系統（或75W Xe燈光源），光源不穩定度<0.1%，可提供300nm~2000nm連續光源

  2. 高效率橢圓集光鏡系統，具備三軸調整旋鈕

  3. 燈源定時(shí)器

單光儀

  1. Czerny-Turner多光柵單光儀

  2. 0.1nm波長(cháng)解析，掃描范圍 200nm~2000nm

自動(dòng)濾鏡轉輪

  1. 可裝載6片雜散光濾鏡

  2. 可手動(dòng)/計算機控制，具LED顯示

斬波器

  1. 4Hz~500Hz，計算機頻率控制

雙鎖相放大器

  1. 兩部DSP dual-phase鎖相放大器整合于系統內，可同時(shí)擷取雙光束測試訊號

校正探測器

  1. Si偵測器，10x10m2

  2. 有效面積內不均勻度<0.5%

  3. 偵測能力200nm~1100nm

  4. 附300nm~1100nm光譜回應追溯校驗報告

訊號切換多任務(wù)器

  1. 4對1計算機控制訊號切換多任務(wù)器

計算機系統

  1. PC,LCD,Windows操作系統(需自備計算機桌)

軟件

  1. EQE/SR量測控制軟件

  2. 光強度校正

  3. 多圖儲存與編輯

  4. 能系分析功能

  5. 自動(dòng)切換參考偵測器與待測電池之訊號

  6. 樣品訊號狀態(tài)顯示

  7. 內部量子效率計算(客戶(hù)輸入反射率)

  8. 全光譜短路電路密度計算(自動(dòng)交錯算法)

  9. 短路電流密度光譜

  10. 光譜不含致度因子計算軟件(自動(dòng)交錯算法)

電力需求

  1. 可選110V或220V AC單相，<1KVA

操作環(huán)境

  1. 溫度:20 ℃~40 ℃，濕度:20%~80%

光強監控模塊

  1. 300nm~1100nm，雙光束量測

偏壓電壓

  1. 0V~±5V

QE-R光譜響應測試系統 選購功能

項目
規格
雙光源系統

  1. Xe + QTH 雙光源系統，含兩組高效率橢圓集光燈系統，計算機控制電源切換

  2. 700 (W) x 700 (D) x800(H) 集成外箱(選購雙光源后的材積)

偏置光源

  1. 150 W 白光偏光光源

全自動(dòng)多接面量測套件

  1. 可量測:

  2. aa-si; au-si double-junction;

  3. aau-si; auu-si; aug-si triple-junction;

  4. III-V double-junction and triple-junction;

  5. OPV double-junction

內部量子效率量測模塊

  1. 2"積分球

  2. 硅偵測器，波長(cháng)范圍 300 nm~ 1100 nm

  3. 積分球切換機構

  4. 反射率 / IQE 量測軟件

穿透率量測模塊

  1. 穿透率量測偵測器，si 300 nm ~ 1100 nm

  2. 穿透率量測軟件

  3. 量測樣品臺，樣品大小 max. 20 x 20 x 3mm3?(min. 10 x 10 x 1 mm3)

長(cháng)波長(cháng)擴充套件

  1. Ge 鍺參考偵測器，900 nm ~ 1800 nm 含校正報告

  2. InGaAs 參考偵測器，1000 nm ~ 2000 nm 含校正報告

UPS

  1. Online UPS > 1.5 KVA

Mapping

  1. XY自動(dòng)平臺，200 nm x 200 nm行程，2.5 um resolution

  2. Mapping量測軟件

  3. 任意波長(cháng)QE掃描等功能

  4. 自動(dòng)光強校正 / 樣品量測 / 位置調整

其他

  1. 直流量測模式、客制化樣品臺、數字影像顯微鏡下針監控系統、反射率內部量子效率量測、吸收光譜量測(需選購反射率及穿透率套件)、系統使用效益統計分析、制成改進(jìn)分析功能、供電系統分析、光束引致電流空間掃描3D掃描量測與分析、多點(diǎn)EQE自動(dòng)量測




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