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簡(jiǎn)要描述：光炎量子效率分析儀圖像傳感器測試儀是一個(gè)商用 CMOS 圖像傳感器測試儀。SG-A 可以提供*的 CMOS 圖像傳感器參數表征，如全光譜量子效率 QE、整體系統增益 K、時(shí)間性暗噪聲、信噪比、靈敏度閾值、飽和容量、動(dòng)態(tài)范圍、DSNU、PRNU、線(xiàn)性誤差和射線(xiàn)角 CRA。
產(chǎn)品型號： SG-A
所屬分類(lèi)：光焱量子效率分析儀
更新時(shí)間：2023-08-03
廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
| 品牌 | 其他品牌 | 應用領(lǐng)域 | 醫療衛生,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子 |
|---|
SG-A 系統是一個(gè)商用 CMOS 圖像傳感器測試儀。SG-A 可以提供*的 CMOS 圖像傳感器參數表征，如全光譜量子效率 QE、整體系統增益 K、時(shí)間性暗噪聲、信噪比、靈敏度閾值、飽和容量、動(dòng)態(tài)范圍、DSNU、PRNU、線(xiàn)性誤差和射線(xiàn)角 CRA。被測設備可以是幾種類(lèi)型的 CMOS 圖像傳感器模塊。檢驗程序符合 EMVA 1288 標準。因此，SG-A CMOS 圖像傳感器測試儀可用于進(jìn)行晶圓級光學(xué)檢測、加工參數控制、微透鏡設計、微透鏡驗證。SG-A CMOS 圖像傳感器測試儀的高度準直光束（<1°）可以克服傳統光學(xué)系統（如積分球系統）無(wú)法解決的新制造工藝的檢測困難。這些工藝包括小像素（< 1 um）、BSI 和 3D 堆疊、微透鏡、新的拜耳陣列設計等等。
無(wú)損光學(xué)檢測。
高度準直梁角 / 高準直波束角 < 0.05 度, < 0.1 度, < 0.5 度, < 1 度, < 3 度 (不同型號)
高均勻光束點(diǎn)：≥ 99%。
光的不穩定性 ≤1%。
高動(dòng)態(tài)范圍測試能力：80dB ~ 140dB（不同型號）。
可以測試 CMOS 圖像傳感器參數。量子效率、光譜響應、系統增益、靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、暗電流 / 噪聲、信噪比、飽和容量、線(xiàn)性誤差（LE）、DCNU（暗電流不均勻性）、PRNU（光響應不均勻性）、CRA（射線(xiàn)角）。
全光譜波長(cháng)范圍：300nm – 1100nm 或 350nm ~ 1000nm（PTC）。
波長(cháng)可擴展至 1700 納米以上。
DUT 封裝：CIS 模塊，PCB 板級，CIS 攝像頭，有 / 無(wú)微透鏡。
SG-A 和 DUT 之間的 “直接 “或 “握手 “通信協(xié)議。
定制的測試夾具和平臺（手動(dòng)或自動(dòng)，多 6 軸）。
強大的分析軟件 ARGUS®。
應用：指紋識別（CIS + 鏡頭，CIS + 準直器，TFT 陣列傳感器）CIS 的微透鏡設計，晶圓級光學(xué)檢測，CIS DSP 芯片算法開(kāi)發(fā)，Si TFT 傳感器面板，飛行時(shí)間相機傳感器，接近傳感器（量子效率，靈敏度，線(xiàn)性度，SNR 等），d-ToF 傳感器，i-ToF 傳感器，多光譜傳感器，環(huán)境光傳感器（ALS），指紋顯示（FoD）傳感器。
規格
SG-A 型 CMOS 圖像傳感器測試儀的功能非常強大，因此相關(guān)的規格和配件也非常齊全。請與我們聯(lián)系，以了解更多細節和選擇咨詢(xún), 以下是主要的能力規格：
– 全光譜的波長(cháng)范圍：300 – 1100 納米或 350 – 1000 納米（PTC）。
– 波長(cháng)范圍可以擴展到 1700 納米或更高。
– 單一波長(cháng)源。470 納米, 530 納米, 630 納米, 940 納米（±5納米）或自定義。
– 動(dòng)態(tài)范圍：80dB、100dB 或 140dB。
– 測試夾具：DUT ≤ 100mm x 100mm x 30mm (高度)[基本型] 或訂制。
– 平臺：無(wú)，手動(dòng) 3 軸或 6 軸（手動(dòng) + 自動(dòng)）平臺（可訂制)
應用范圍
指紋識別（CIS + 鏡頭，CIS + 準直器，TFT-陣列傳感器)
CIS 的微透鏡設計，晶圓級光學(xué)檢查
CIS DSP 芯片的算法開(kāi)發(fā)
Si TFT 傳感器面板
飛行時(shí)間相機傳感器
近距離感應器 (量子效率、靈敏度、線(xiàn)性度、SNR 等)
d-ToF 傳感器，i-ToF 傳感器
多光譜傳感器
環(huán)境光傳感器 (ALS)
指紋顯示（FoD）傳感器
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