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簡(jiǎn)要描述：光焱科技新推出光炎量子效率光傳感器特性分析儀PD-QE測試系統，針對第三代半導體材料Photodiode/Photodetector的相關(guān)特性測試，整合新高精密直流可耐電壓偵測技術(shù)，與傳統交流模式下測量EQE使用鎖相放大器、電壓無(wú)法加過(guò)12V相比，該系統高可輸出1000V高壓，電流量程為2pA，精度達0.1fA，可滿(mǎn)足客戶(hù)多種量測需求。
產(chǎn)品型號： PD-QE
所屬分類(lèi)：光焱量子效率分析儀
更新時(shí)間：2023-08-03
廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
| 品牌 | 其他品牌 | 應用領(lǐng)域 | 醫療衛生,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子 |
|---|
光焱科技新推出PD-QE測試系統，針對第三代半導體材料Photodiode/Photodetector的相關(guān)特性測試，整合新高精密直流可耐電壓偵測技術(shù)，與傳統交流模式下測量EQE使用鎖相放大器、電壓無(wú)法加過(guò)12V相比，該系統高可輸出1000V高壓，電流量程為2pA，精度達0.1fA，可滿(mǎn)足客戶(hù)多種量測需求。
光焱科技新推出PD-QE測試系統，針對第三代半導體材料Photodiode/Photodetector的相關(guān)特性測試，整合新高精密直流可耐電壓偵測技術(shù)，與傳統交流模式下測量EQE使用鎖相放大器、電壓無(wú)法加過(guò)12V相比，該系統高可輸出1000V高壓，電流量程為2pA，精度達0.1fA，可滿(mǎn)足客戶(hù)多種量測需求。
設備特點(diǎn)
使用均勻光斑的"照度模式" (Irradiance Mode) 符合ASTM E1021；
取代傳統聚焦小光斑，可以測試um等級的光電傳感器；
均勻光斑可以克服色散差與像差的問(wèn)題，可準確測得EQE曲線(xiàn)；
可搭配多種探針臺系統，實(shí)現非破壞性的快速測試；
集成的光學(xué)與測試系統，提高系統搭建效率；
一鍵式自動(dòng)化測試軟件，自動(dòng)全光譜校正與測量，工作效率高。
測試特性
外部量子效率EQE
光譜響應SR
I-V曲線(xiàn)測量
NEP光譜測量
D*光譜測量
Noise-current-frequency響應圖 (A/Hz-1/2; 0.01Hz~1,000Hz)
Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析
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