光焱量子科技激光掃描缺陷測繪系統激光掃描缺陷影像儀，是激光束誘導電流測試（LBIC）的升級版，利用波長(cháng)能量大于半導體能隙大的激光束，照射在半導體后產(chǎn)生的電子-空穴對，通過(guò)快速的掃描樣品表面，獲得影像分布，可以得到內部電流的變化來(lái)了解分析各種的缺陷分布，幫助分析樣品制備質(zhì)量以及幫助工藝改進(jìn)。

光焱量子科技太陽(yáng)光模擬器SS-F5-3A為太陽(yáng)能模擬器，用以測量太陽(yáng)能電池效率，其光斑大小為5 cm x 5 cm或7 cm x 7 cm。采光纖導光功能，可配合實(shí)驗室需求，依據場(chǎng)所任意移動(dòng)，并自由調整出光方向，便于應用各種領(lǐng)域，也可與手套箱結合。

光焱量子科技圖像傳感器測試系統測試系統針對CCD、CMOS、image sensor、相機等圖像影像傳感器開(kāi)發(fā)，適合多種規格的芯片和板卡性能測試，包括量子效率、光譜響應、系統增益、飽和照射光子數、小可探測照射光子數、動(dòng)態(tài)范圍、暗電流、線(xiàn)性度和線(xiàn)性誤差、光電響應不均勻度、暗信號不均勻度、CRA特性測量。

光焱科技光譜響應測試系統IPCE量子效率測試QE-R系統可以測試晶硅電池（Si），非晶硅電池（a-Si），多結電池（Tandem），染料敏化電池（DSSC），有機電池（OPV），銅銦鎵硒（CIGS），聚光電池（HCPV）等各種太陽(yáng)能電池。

光焱科技QE-R量子效率測量系統采用了高效的橢圓反射器，比傳統的球形透鏡和反射器具有更高的集光效率。且于60cm x 60cm x 60cm 的主體內集成了所有光學(xué)和機械部件，節省了大量實(shí)驗室空間，但仍保持了各種類(lèi)型的太陽(yáng)能電池測試夾具的靈活性。并且也提供簡(jiǎn)單而完整的手套箱集成方案。