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光焱量子科技激光掃描缺陷測繪系統激光掃描缺陷影像儀,是激光束誘導電流測試(LBIC)的升級版,利用波長(cháng)能量大于半導體能隙大的激光束,照射在半導體后產(chǎn)生的電子-空穴對,通過(guò)快速的掃描樣品表面,獲得影像分布,可以得到內部電流的變化來(lái)了解分析各種的缺陷分布,幫助分析樣品制備質(zhì)量以及幫助工藝改進(jìn)。
光焱量子科技太陽(yáng)光模擬器SS-F5-3A為太陽(yáng)能模擬器,用以測量太陽(yáng)能電池效率,其光斑大小為5 cm x 5 cm或7 cm x 7 cm。采光纖導光功能,可配合實(shí)驗室需求,依據場(chǎng)所任意移動(dòng),并自由調整出光方向,便于應用各種領(lǐng)域,也可與手套箱結合。
光焱量子科技圖像傳感器測試系統測試系統針對CCD、CMOS、image sensor、相機等圖像影像傳感器開(kāi)發(fā),適合多種規格的芯片和板卡性能測試,包括量子效率、光譜響應、系統增益、飽和照射光子數、小可探測照射光子數、動(dòng)態(tài)范圍、暗電流、線(xiàn)性度和線(xiàn)性誤差、光電響應不均勻度、暗信號不均勻度、CRA特性測量。
光焱科技光譜響應測試系統IPCE量子效率測試QE-R系統可以測試晶硅電池(Si),非晶硅電池(a-Si),多結電池(Tandem),染料敏化電池(DSSC),有機電池(OPV),銅銦鎵硒(CIGS),聚光電池(HCPV)等各種太陽(yáng)能電池。
光焱科技QE-R量子效率測量系統采用了高效的橢圓反射器,比傳統的球形透鏡和反射器具有更高的集光效率。且于60cm x 60cm x 60cm 的主體內集成了所有光學(xué)和機械部件,節省了大量實(shí)驗室空間,但仍保持了各種類(lèi)型的太陽(yáng)能電池測試夾具的靈活性。并且也提供簡(jiǎn)單而完整的手套箱集成方案。